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黑镍现象——富士康华南检测中心(昆山)

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前言
黑镍的生成主要是因为在浸金过程中,镍层表面遭受过度氧化反应。大体积的金原子不规则沉积,及其粗糙晶粒之稀松多孔,造成底下镍层持续发生『化学电池效应』(Galvanic effect),进而使得镍层不断发生氧化,导致在金面下生成未能溶解的镍锈持续累积而成。

黑镍对焊接的影响

1.案例背景
▷ 客户产品过SMT后发现某电容焊点强度过低(推力<0.3kgf), 焊点断裂,不良率约为30%, 客户要求分析失效原因。
▷ PCB为化镍浸金板,电容表面处理为镀镍镀锡。
▷ 断裂通常发生在右端焊点。

2.分析方法简述
2.1 原因分析-断口分析(推力:0.25kgf)

▷ 对脱落样品的断口进行分析,发现断裂主要发生在焊点PCB侧富P层附近。
▷ PCB端左右两侧断口形貌存在明显差异,右侧断口发现有明显的“泥状”腐蚀裂纹。
2.2 原因分析—电容原物料分析
2.2.1 表面成分分析


2.2.2 沾锡能力测试

2.2.3 切片+EDS分析

小结:1.对电容左右两端进行表面成分分析,未发现异常元素;
2.电容左右两端的沾锡能力正常。
2.3 原因分析—PCB原物料分析
切片分析+膜厚量测



● PCB原物料发现有较严重的“黑镍”现象,其中右侧Pad明显比左侧严重
● 镍层厚度在正常范围之内



小结:PCB镍层P含量约为9wt%,在正常范围之内(6-10wt%)
2.4 原因分析—未脱落样品焊点分析

▷ NG样品焊点内生成的IMC普遍较厚,部分区域達4.2μm 。同时生成了厚度近0.4μm的富P层,以及连续的Ni-Sn-P层。过厚的IMC及连续的Ni-Sn-P对焊点强度不利。

▷ 右侧Pad焊点内有严重的黑镍,导致局部区域焊接润湿不良。在黑镍上方同时发现有大量的Au富集(AuSn4),AuSn4易产生“金脆”,对焊点强度不利。

▷ 在部分区域黑镍造成了较严重的腐蚀裂纹,部分腐蚀裂纹达到了Ni层的一半。在NG样品的断口上,可以轻易发现这些腐蚀裂纹。
3.结论
1.焊点断裂主要发生在PCB侧的富P层附近。不良批次的PCB有严重的“黑镍”现象,其中失效位置的右侧Pad明显严重于左侧,导致右侧焊点更容易失效。
2.黑镍导致焊点部分区域出现不润湿,并在部分区域产生了较严重的腐蚀裂纹,影响焊点强度。
3.两侧Pad焊点均生成了较厚的IMC,厚度近0.4μm的富P层以及连续的Ni-Sn-P层。Ni-Sn-P相与IMC结合力差,可能对焊接强度有影响。
4.改善建议
1.严格控制原物料PCB质量,减轻黑镍现象;
2.适当降低焊接热量。
手机:15862801301


1楼2017-10-09 15:40回复