三星最近开发了一种可以检测NAND芯片故障的技术，该技术可以提升SSD的寿命和可靠性，并且宣布将在即将发布的PCIe 4.0 SSD产品中使用，三星计划先在数据中心中使用，随后会考虑过渡到消费级产品当中。
该技术叫做FIP（Fail in place）故障定位技术，可以检测到SSD上的故障NAND芯片，通过这个操作避免SSD报废。该技术可以在某块NAND坏掉的时候把这块NAND废除掉，而不用直接扔掉整块盘，虽然盘的整体容量小了，但总比整块盘全废了要好。
FIP会扫描存储设备的故障区域，然后把坏的部分存储的数据片放到别正常的地方，这一过程是自动完成的，这是一种内嵌到SSD里的数据恢复方案。
FIP作为芯片级的数据恢复方案，外媒将其称之为不死SSD。
通常来说，磁盘损坏的概率大概大概是成百上千个就有一个，坏了之后只能扔，需要花钱买新的不说，还会引起宕机。
它的实用性如何呢？
这一技术方案在普通几百GB的SSD上价值不是特别大，但是如果在有512块NAND的30TB超大个儿SSD上，这技术就非常有价值了，一旦NAND芯片坏掉了，FIP会自动在芯片级启动纠错的算法。
这样的纠错算法会不会带来性能损耗呢？
三星表示，不存在的，性能会很稳定。
Samsung PM1733 SSD
截至目前，FIP技术只出现在三星数据中心里的两款PCIe 4.0 SSD：PM1733和PM1735。其中，PM1735的顺序性能是SATA SSD的14倍。